PCT高壓加速老化試驗箱出貨海陽電子廠

　　PCT高壓加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。內膽采用圓弧設計,復合國家安全容器標準,可以防止試驗結露滴水現(xiàn)象，從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。配備雙層不銹鋼產品架,也可根據客戶產品規(guī)格尺寸免費量身定制專用產品架。

　　PCT高壓加速老化試驗箱缺水時處置方法

　　1.當設備缺水時，警示系統(tǒng)會以連續(xù)的警示聲告知。設備缺水分兩種情況：a、機器剛啟動，工作時間未開始計時，就水位不足，此種情況機器無法啟動;b、工作過程中，水位不足，此時機器會鳴叫警示并切斷電熱管，溫度會慢慢下降，但工作時間還會持續(xù)再進行。

　　2.將水由注水口注入水箱。

　　3.工作程序會自動繼續(xù)執(zhí)行。